国家重点实验室实验技术讲座-台式高分辨率植物计算机断层扫描系统

来源 : 学历在线网 2019-12-10 16:53:03

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　　台式高分辨率植物计算机断层扫描系统可对植物组织、果实、种子进行三维成像分析，可获取形态学以及内部性状信息，分辨率高，能够清晰显示被测物内部微小结构植物种子三维结构研究，无损探索植物花苞、种子腔体、胚和胚乳的变化、果实内部结构变化、植物茎秆等剖面结构和三维结构，把植物内部结构的“黑匣子”打开变成清晰的图像和数据，可对人眼看不见的部位进行内部结构解析和测量。

　　作物遗传与种质创新国家重点实验室新购置台式高分辨率植物计算机断层扫描系统一套(厂家：德国Fraunhofer、型号：CTportable 160.90)，为发挥该仪器在科研工作中的先进性能，特邀请厂家技术工程师介绍该技术在农业领域尤其是植物表型研究方面的应用，欢迎老师、同学参加。

　　报告题目：Digital phenotyping with state of the art xray technology(基于X射线技术的数字化植物表型研究)

　　主讲人：Joelle Claussen 博士(德国Fraunhofer研究所)

　　时间：2019年7月18日(周四)上午9:30-10:30

　　地点：国家重点实验室学术报告厅(理科楼A201)

　　主讲人简介：Joelle Claussen 博士，德国Fraunhofer研究所(弗劳恩霍夫集成电路研究所)研究员，就职于x射线技术开发中心，致力于生物与农业领域的计算机断层扫描测量与数据分析。

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